瑞士萬(wàn)通XDS IOPA 近紅外光譜分析儀簡(jiǎn)介

儀器特性及優(yōu)勢(shì)• XDS NIR 技術(shù)確保使用簡(jiǎn)單和定標(biāo)的無(wú)縫轉(zhuǎn)移• 快速斷開(kāi)式探頭，優(yōu)化了固體和液體的測(cè)量• 無(wú)需樣品制備，無(wú)需試劑?？煽焖贌o(wú)損地分析固體粉末、較大顆粒、丸劑或片劑。材料測(cè)定或成分檢測(cè)可在實(shí)驗(yàn)室中或以在線(xiàn)方式對(duì)原包裝中、袋子或樣品瓶中的樣品進(jìn)行。選裝的可調(diào)光點(diǎn)尺寸，可根據(jù)樣品的物理屬性來(lái)調(diào)整樣品照明。

XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗(yàn)、縮短產(chǎn)品滯留時(shí)間，小化實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間而設(shè)計(jì)的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)監(jiān)測(cè)，并作為中試過(guò)程應(yīng)用的補(bǔ)充方案。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭：反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。浸入探頭分析水狀產(chǎn)品、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設(shè)計(jì)允許其在苛刻危險(xiǎn)的取樣環(huán)境中直接使用。

XDS NIR 技術(shù)不僅帶來(lái)了*的分析性能，同時(shí)加快了了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時(shí)間，保證了定標(biāo)的無(wú)縫轉(zhuǎn)移。使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision®軟件可以輕松實(shí)現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。按下一個(gè)按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成精準(zhǔn)的分析。

瑞士萬(wàn)通XDS IOPA 近紅外光譜分析儀特性及優(yōu)勢(shì)

• XDS NIR 技術(shù)確保使用簡(jiǎn)單和定標(biāo)的無(wú)縫轉(zhuǎn)移

• 快速斷開(kāi)式探頭，優(yōu)化了固體和液體的測(cè)量

• 無(wú)需樣品制備，無(wú)需試劑，無(wú)任何廢棄物

• 面向集中數(shù)據(jù)庫(kù)管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀

• 熱插拔模塊 — 幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會(huì)影響性能